Литна peoples.ru

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.

Author: И. О. Атовмян, В. Б. Шувалов, Е. Ф. Березкин, С. С. Ковалевский

ISBN:

Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств

Добавьте свою новость

Здесь