Описаны физические явления, используемые в работе сканирующего туннельного микроскопа и атомного силового микроскопа. Рассмотрены физико-химические законы наиболее разработанных зондовых нанотехнологий. Для студентов и аспирантов специальностей «Технологии приборостроения», «Технологии электронных средств», «Нанотехнологии».
Author: Валерий Башков, Юрий Иванов, Нина Федоркова, Василий Шашурин
ISBN: 5-7038-2938-0